Pagsusuri at pagsusuri ng microstructure ng mga materyales ng semiconductor
Panimula ng Serbisyo
Sa patuloy na pag-unlad ng malalaking integrated circuit, ang proseso ng paggawa ng chip ay nagiging mas kumplikado, at ang abnormal na microstructure at komposisyon ng mga semiconductor na materyales ay humahadlang sa pagpapabuti ng ani ng chip, na nagdudulot ng malalaking hamon sa pagpapatupad ng bagong semiconductor at integrated. mga teknolohiya ng circuit.
Nagbibigay ang GRGTEST ng komprehensibong pagsusuri at pagsusuri ng microstructure ng materyal na semiconductor at pagsusuri upang matulungan ang mga customer na mapabuti ang mga proseso ng semiconductor at integrated circuit, kabilang ang paghahanda ng profile ng antas ng wafer at pagsusuri sa elektroniko, komprehensibong pagsusuri ng pisikal at kemikal na mga katangian ng mga materyal na nauugnay sa pagmamanupaktura ng semiconductor, pagbabalangkas at pagpapatupad ng pagsusuri ng kontaminant ng materyal na semiconductor programa.
Saklaw ng serbisyo
Semiconductor na materyales, organikong maliliit na molekula na materyales, polymer na materyales, organic/inorganic na hybrid na materyales, inorganic na non-metallic na materyales
Programa ng serbisyo
1. Paghahanda ng profile ng chip wafer level at electronic analysis, batay sa nakatutok na teknolohiya ng ion beam (DB-FIB), tumpak na pagputol ng lokal na lugar ng chip, at real-time na electronic imaging, ay maaaring makuha ang istraktura ng profile ng chip, komposisyon at iba pa mahalagang impormasyon sa proseso;
2. Komprehensibong pagsusuri ng pisikal at kemikal na mga katangian ng mga materyales sa pagmamanupaktura ng semiconductor, kabilang ang mga organic na polymer na materyales, maliliit na molekula na materyales, inorganikong non-metallic na materyales na pagtatasa ng komposisyon, pagsusuri ng istruktura ng molekular, atbp.;
3. Pagbubuo at pagpapatupad ng contaminant analysis plan para sa mga semiconductor na materyales.Makakatulong ito sa mga customer na lubos na maunawaan ang pisikal at kemikal na mga katangian ng mga pollutant, kabilang ang: pagtatasa ng komposisyon ng kemikal, pagsusuri sa nilalaman ng bahagi, pagsusuri sa istruktura ng molekular at iba pang pagsusuri sa pisikal at kemikal na katangian.
Mga Item ng Serbisyo
| Serbisyouri | Serbisyomga bagay |
| Pagsusuri ng elementong komposisyon ng mga materyales na semiconductor | l EDS elemental analysis, l X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) elemental analysis |
| Pagsusuri ng istruktura ng molekular ng mga materyales na semiconductor | l FT-IR infrared spectrum analysis, l X-ray diffraction (XRD) spectroscopic analysis, l Nuclear magnetic resonance pop Analysis (H1NMR, C13NMR) |
| Pagsusuri ng microstructure ng mga materyales ng semiconductor | l Double focused ion beam (DBFIB) slice analysis, l Ang field emission scanning electron microscopy (FESEM) ay ginamit upang sukatin at obserbahan ang microscopic morphology, l Atomic force microscopy (AFM) para sa pagmamasid sa morpolohiya sa ibabaw |
