Pagsusuri ng Pagkabigo
Panimula ng Serbisyo
Ang pag-reset ng mga maling produkto sa zero ay ang susi sa patuloy na paulit-ulit na pagpapabuti ng kalidad ng produkto.Ang lokasyon ng fault sa antas ng device at micro-level at pagsusuri ng sanhi para sa mga may sira na produkto ay isa ring makabuluhang diskarte upang paikliin ang mga siklo ng pagbuo ng produkto at bawasan ang mga panganib sa kalidad.
Nakatuon sa integrated circuit failure analysis technology, ang GRGT ay nilagyan ng nangunguna sa industriya na expert team at advanced na failure analysis equipment, na nagbibigay sa mga customer ng kumpletong failure analysis at mga serbisyo sa pagsubok, na tumutulong sa mga manufacturer na mahanap ang mga pagkabigo nang mabilis at tumpak at mahanap ang ugat ng bawat pagkabigo .Kasabay nito, may kakayahan ang GRGT na matugunan ang mga kinakailangan sa R&D mula sa mga customer, tumatanggap ng konsultasyon sa pag-aaral ng pagkabigo sa ilalim ng iba't ibang mga aplikasyon, pagtulong sa mga customer na magsagawa ng eksperimentong pagpaplano, at pagbibigay ng mga serbisyo sa pagsusuri at pagsubok, tulad ng pakikipagtulungan sa mga customer upang isagawa ang pag-verify ng proseso ng NPI , at pagtulong sa mga customer sa pagkumpleto ng batch failure analysis sa mass production phase (MP).
Saklaw ng Serbisyo
Mga electronic na bahagi, discrete device, electromechanical device, cable at connector, microprocessors, programmable logic device, memory, AD/DA, mga interface ng bus, pangkalahatang digital circuit, analog switch, analog device, microwave device, power supply atbp.
Mga pamantayan sa pagsubok
1. Konsultasyon sa pagsusuri ng pagkabigo ng NPI at pagbabalangkas ng programa
2. Pagsusuri ng Pagkabigo sa RP/MP at Pagtalakay sa Scheme
3. Pagsusuri ng pagkabigo sa antas ng chip (EFA/PFA)
4. Pagsusuri ng pagkabigo sa pagsusulit sa pagiging maaasahan
Mga item sa pagsubok
| Uri ng serbisyo | Mga item ng serbisyo |
| Di-mapanirang pagsusuri | X-Ray, SAT, OM visual na inspeksyon |
| Mga katangiang elektrikal/pagsusuri ng lokasyon ng elektrikal | IV curve measurement, Photon Emission, OBIRCH, ATE test at tatlong temperatura (temperatura ng kwarto/mababang temperatura/mataas na temperatura) na pag-verify |
| Mapanirang pagsusuri | Plastic de-capsulation, delamination, board-level slicing, chip-level slicing, push-pull force test |
| Pagsusuri ng mikroskopiko | Pagsusuri ng seksyon ng DB FIB, inspeksyon ng FESEM, pagsusuri ng elemento ng micro-area ng EDS |
Tungkol sa atin
Ang GRG Metrology & Test Group Co., Ltd. (stock abbreviation: GRGTEST, stock code: 002967) ay itinatag noong 1964 at nakarehistro sa SME Board noong Nobyembre 8, 2019.
Ito ang unang nakalistang negosyo sa Guangzhou Municipal State-owned Assets System noong 2019 at ang ikatlong A-share na nakalistang kumpanya sa ilalim ng Guangzhou Radio Group.
Ang mga kakayahan sa teknikal na serbisyo ng kumpanya ay lumawak mula sa pagbibigay ng iisang serbisyo sa pagsukat at pagkakalibrate noong 2002 hanggang sa komprehensibong teknikal na serbisyo tulad ng pagsukat at pagkakalibrate ng instrumento, pagsubok at sertipikasyon ng produkto, teknikal na konsultasyon at pagsasanay, kabilang ang pagsukat at pagkakalibrate, pagiging maaasahan at pagsubok sa kapaligiran, at electromagnetic pagsubok sa pagiging tugma.Ang laki ng mga serbisyong panlipunan para sa mga linya ng negosyo ay nasa tuktok sa industriya.
